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A novel characterization tool for the study of dielectric breakdown of ultra-thin oxide MOS structures

A novel characterization tool for the study of dielectric breakdown of ultra-thin oxide MOS structures

A novel characterization tool for the study of dielectric breakdown of ultra-thin oxide MOS structures

tipo de documento Publicacion

Etiquetas: fluctuations, noise measurement, testing, stress, voltage, instruments, microcomputers, electric breakdown, dielectric breakdown, low-frequency noise

Publicado en: libro: 16th ieee instrumentation and measurement technology conference - imtc 1999, página inicial: 1923-1926, página final:

Fecha publicación: 24/05/1999

True constant temperature measurement system for lifetime tests of metallic interconnections of IC's

True constant temperature measurement system for lifetime tests of metallic interconnections of IC's

True constant temperature measurement system for lifetime tests of metallic interconnections of IC's

tipo de documento Publicacion

Autores: Giannetti, Romano, Ciofi, Carmine, Neri, Bruno

Etiquetas: microcomputers, temperature control., metallization, reliability testing, electromigration

Publicado en: revista: ieee transactions on instrumentation and measurement, periodo: 1, volumen: 47, número: 5, página inicial: 1187, página final: 1190

Fecha publicación: 01/10/1998

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