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    True constant temperature measurement system for lifetime tests of metallic interconnections of IC'sclose

    True constant temperature measurement system for lifetime tests of metallic interconnections of IC's

    tipo de documento Publicacion

    ...

    Autores: Giannetti, Romano, Ciofi, Carmine, Neri, Bruno

    Etiquetas: microcomputers, temperature control., metallization, reliability testing, electromigration

    Publicado en: revista: ieee transactions on instrumentation and measurement, periodo: 1, volumen: 47, número: 5, página inicial: 1187, página final: 1190

    Fecha publicación: 01/10/1998

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