Temperature controlled multi-oven for MTF tests
tipo de documento semantico ckh_publication
Ficheros
IIT-98-088A.pdf
Tamaño
495565
Formato
Adobe PDF
Url del contenido
https://repositorio.comillas.edu/rest/bitstreams/309144/retrieve
Fecha de publicación
01/06/1998
Fuente
Libro: 15th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference - IMTC 1998, Página inicial: 1282-1285, Página final:
Estado
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Resumen
Idioma
es-ES
Idioma
en-GB
Resumen
The design and principle of operation of a measurement system primarily intended for performing MTF (median time to failure) tests on metallic interconnections of integrated circuit is presented. The instrument is different from other similar equipment in that a separate heating system is used for each sample. This approach will allow one, probably for the first time, to perform such tests in the ideal conditions of constant current and temperature for all the samples.
Uri identificador
http://hdl.handle.net/11531/40680
Editorial
Sin editorial (Saint Paul, Estados Unidos de América)
Grupos de investigación y líneas temáticas
Instituto de Investigación Tecnológica (IIT)
Palabras clave
Idioma
en-GB
Idioma
en-GB
Tag
Circuit testing
Idioma
en-GB
Idioma
en-GB
Tag
Time measurement
Idioma
en-GB
Idioma
en-GB
Idioma
en-GB
Tag
System testing
Idioma
en-GB
Idioma
en-GB
Tag
Instruments
Idioma
en-GB
Tag
Heating
Tipo de archivo
application/pdf
Idioma
en-GB
Tipo de acceso
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Fecha de modificacion
09/09/2022
Fecha de disponibilidad
11/09/2019
fecha de alta
11/09/2019
Compartida con:
